Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.znu.edu.ua/jspui/handle/12345/17438
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Фесенко, Олександр Сергійович | - |
dc.date.accessioned | 2023-12-22T09:40:18Z | - |
dc.date.available | 2023-12-22T09:40:18Z | - |
dc.date.issued | 2023 | - |
dc.identifier.uri | https://dspace.znu.edu.ua/jspui/handle/12345/17438 | - |
dc.description | Фесенко О. С. Теоретичне та експериментальне дослідження ВАХ p-n переходів з шунтуванням : кваліфікаційна робота магістра спеціальності 105 "Прикладна фізика та наноматеріали" / наук. керівник О. С. Яновський. Запоріжжя : ЗНУ, 2023. 50 с. | uk |
dc.description.abstract | UA : Робота викладена на 50 сторінках друкованого тексту, містить 16 рисунків, було використано 25 літературних джерел. Мета дослідження полягає в теоретичному і експериментальному дослідженні вольт-амперної характеристики (ВАХ) p-n переходів з шунтуванням. Для досягнення цієї мети необхідно вирішити наступні завдання: ознайомитися з теоретичними основами дослідження ВАХ p-n переходів з шунтуванням; розробити методику експериментального дослідження ВАХ p-n переходів з шунтуванням та провести експериментальне дослідження. Об'єкт дослідження - p-n перехід з шунтуванням. Предмет дослідження - вимірювання ВАХ p-n переходу з шунтуванням. Методи дослідження – аналітичний та експериментальний. У теоретичній частині роботи розглядаються основні принципи роботи p-n переходів та процеси, що впливають на їх ВАХ. Експериментальна частина роботи включає вивчення p-n переходів зі шунтуванням в лабораторних умовах. Отримані результати дозволять поглибити розуміння фізичних процесів, що відбуваються в p-n переходах з шунтуванням, та розробити рекомендації для практичного використання цих знань у сучасних технологіях напівпровідникової електроніки. | uk |
dc.description.abstract | EN : Master’s qualification work « Theoretical and experimental study of I-V characteristics of shunted p-n junctions »: 50 pages, 16 figures, 25 references. The aim of the study is to theoretically and experimentally investigate the I-V characteristics of shunted p-n junctions. To achieve this goal, it is necessary to solve the following tasks: to familiarize with the theoretical foundations of studying the I-V characteristics of shunted p-n junctions; to develop a methodology for the experimental study of the I-V characteristics of shunted p-n junctions and conduct experimental research. The object of research is the shunted p-n junction. The subject of the study is the measurement of I-V characteristics of a shunted p-n junction. Research methods – analytical and experimental. In theoretical part of this work the basic principles of p-n junction operation and the processes affecting their I-V characteristics are discussed. The experimental part of the work includes the and study of shunted p-n junctions in laboratory conditions. The obtained results will deepen the understanding of the physical processes occurring in shunted p-n junctions and develop recommendations for the practical use of this knowledge in modern semiconductor electronics technologies. | uk |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.subject | напівпровідники | uk |
dc.subject | вольт-амперна характеристика | uk |
dc.subject | діод | uk |
dc.subject | двокомпонентні напівпровідники | uk |
dc.subject | p-n перехід | uk |
dc.subject | потенціальний бар'єр | uk |
dc.subject | semiconductors | uk |
dc.subject | current-voltage characteristics | uk |
dc.subject | diode | uk |
dc.subject | binary semiconductors | uk |
dc.subject | p-n junction | uk |
dc.subject | potential barrier | uk |
dc.title | Теоретичне та експериментальне дослідження ВАХ p-n переходів з шунтуванням | uk |
dc.type | Магістерська робота | uk |
Appears in Collections: | Кваліфікаційні випускні роботи здобувачів магістерського рівня вищої освіти кафедри загальної та прикладної фізики |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Диплом магістра Фесенко О.С..pdf | Магістерська робота | 1.52 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.