Інституційний репозитарій ЗНУ

Дослідження системи керування MEMS модулятором

Показати скорочений опис матеріалу

dc.contributor.author Тимченко, Роман Вікторович
dc.contributor.author Тимченко, Роман Викторович
dc.contributor.author Tymchenko, Roman Viktorovych
dc.contributor.author Кісельов, Єгор Миколайович
dc.contributor.author Киселев, Егор Николаевич
dc.contributor.author Kiselev, Egor Nikolayevich
dc.date.accessioned 2018-03-16T08:50:22Z
dc.date.available 2018-03-16T08:50:22Z
dc.date.issued 2016-04
dc.identifier.uri https://dspace.znu.edu.ua/jspui/handle/12345/527
dc.description Тимченко, Р. В. Дослідження системи керування MEMS модулятором [Електронний ресурс] / Р. В. Тимченко, Є. М. Кісельов // Матеріали XXІ науково-технічної конференції студентів, магістрантів, аспірантів і викладачів ЗДІА, 25-29 квітня 2016 р. – Запоріжжя, 2016. – Т. ІІІ. - С. 21. uk
dc.description.abstract UA: Показано, що максимум характеристики R(f) сенсора зсувається в бік більш низьких частот при збільшенні товщини шару піроелектрика. При цьому також спостерігається зменшення чутливості з 3,3 В / Вт до 1,2 В / Вт. uk
dc.description.abstract EN: It is shown that the maximum of the sensor characteristic R (f) is shifted toward lower frequencies with increasing thickness of the pyroelectric layer. At the same time, the sensitivity decreases from 3.3 V / W to 1.2 V / W. uk
dc.description.abstract RU: Показано, что максимум характеристики R (f) сенсора сдвигается в сторону более низких частот при увеличении толщины слоя пироэлектричество. При этом также наблюдается уменьшение чувствительности с 3,3 В / Вт до 1,2 В / Вт. uk
dc.language.iso uk uk
dc.subject MEMC uk
dc.subject MЭMC uk
dc.subject MEMS uk
dc.subject датчик uk
dc.subject датчик uk
dc.subject sensor uk
dc.title Дослідження системи керування MEMS модулятором uk
dc.title.alternative Исследование системы управления MEMS модулятором uk
dc.title.alternative Investigation of MEMS modulator control system uk
dc.type Научный доклад uk


Долучені файли

Даний матеріал зустрічається у наступних фондах

Показати скорочений опис матеріалу