Скануюча тунельна та атомна силова мікроскопія як сучасні методи дослідження нанооб’єктів

Abstract

UA : Робота викладена на 58 сторінках друкованого тексту, містить 11 рисунків, було використано 21 літературних джерел. Мета роботи: провести порівняння різних видів скануючої мікроскопії та привести приклади застосування скануючої тунельної та атомно-силової мікроскопії до вивчення нанооб’єктів. Об’єкт дослідження – скануюча тунельна та атомна силова мікроскопія. Предмет дослідження – застосування методів СТМ та АСМ для вивчення атомарно-чистих поверхонь кремнію, а також вуглецевих нанооб’єктів. Метод дослідження – аналітичний. В даній роботі проведено аналітичне дослідження сучасних методів вивчення нанооб’єктів.

EN : The work is presented on 58 pages of printed text, 11 figures, was used 21 literary sources. The object of the study is scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy. In this study different types of microscopy are compared and provided examples of scanning tunneling and atomic force microscopy use to study dimers on the surface. The aim of the study is using STM and AFM to investigation of nanoobjects researching. The method of research is analytical. In this study an analytical study of modern methods of nanoobjects researching.