Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.znu.edu.ua/jspui/handle/12345/656
Title: | Антиотражающее покрытие на основе тонких пироэлектрических пленок |
Other Titles: | An antiradiation coverage on the basis of thin pyroelectric films Антивідбиваюче покриття на основі тонких піроелектричних плівок |
Authors: | Костенко, Виталий Леонидович Швец, Евгений Яковлевич Киселев, Егор Николаевич Kostenko, Vitaliy Shvets, Yevgen Kiselev, Egor Костенко, Віталій Леонідович Швець, Євген Якович Кісельов, Єгор Миколайович |
Keywords: | поглощение излучения поглинання випромінювання absorption of radiation |
Issue Date: | Apr-2001 |
Citation: | Костенко, В. Л. Антиотражающее покрытие на основе тонких пироэлектрических пленок [Текст] / В. Л. Костенко, Е.Я. Швец, Е. Н. Киселев // Сборник докладов 12-го международного симпозиума «Тонкие пленки в электронике», 23 - 27.04.2001г. - Харьков, 2001. - С. 102 - 103. |
Abstract: | RU: В работе исследуется возможность создания антиотражающих покрытий на основе тонких пленок пироэлектриков. Предложена конструкция антиотражающего покрытия матричного типа и структура активного элемента матрицы. Показана возможность управления процессом поглощения и исследована радиационная стойкость покрытий. EN: In paper the opportunity of making antiradiation of coverages is investigated on the basis of pyroelectric thin films. The construction antiradiation of a coverage of a matrix type and structure of a fissile device of a matrix is offered. The opportunity of process control of an absorption is shown and the radiation stability of coverages is explored. UA: В роботі досліджується можливість створення антівідбиваючих покриттів на основі тонких плівок піроелектриків. Запропоновано конструкцію антівідбиваючого покриття матричного типу і структура активного елементу матриці. Показана можливість керування процесом поглинання і досліджено радіаційну стійкість покриттів. |
URI: | https://dspace.znu.edu.ua/jspui/handle/12345/656 |
Appears in Collections: | Наукові видання кафедри електроніки, інформаційних систем та програмного забезпечення |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.